Samsung, Note 8 lansmanı öncesinde pil test sürecini yeniledi !

Samsung, Galaxy Note 7 ‘ de arızalı piller sebebiyle çıkan yangınlar sonucu yaşadığı büyük travmayı yeniden yaşamamak için Note 8 lansmanı öncesi deyimi tam yerinde kullanayım ” Yoğurdu üfleyerek yemeye çalışıyor.” Yeniden patlayan, yanan bir pil olayıyla karşılaşmak istemeyen firma birkaç ay önce pillerin test sürecini açıkça ortaya koyabilmek için MIT Technology Review ile çalışmaya başladı.

Samsung ‘ un Note 7 ‘ de yaşananlar gibi başka bir olay yaşanmayacağından emin olmak için kullandığı yeni test programı tüm ayrıntılarıyla açıklanarak raporlandı. Bu rapora göre test sürecinde 2 ayrı pil kusuru tespit edildi. Telefonların ilk incelemesinde sıkıştırılmış pil köşelerinin, negatif elektrotun sarılmasına ve bu nedenle kısa devre oluşmasına neden olduğu tespit edildi. Sonraki incelemede yedek pillerin pozitif ve negatif elektrotların temasına ,kaynak burgularının neden olduğu ve bunun kısa devre oluşmasına ve yanmaya sebep olduğu belirlendi.

 

Samsung, üç nedenden dolayı test sürecini halka açmaya karar verdiğini açıkladı.

İlki, rakipler de dahil olmak üzere konuyla ilgili herkesin pillerin test sürecini görmelerini sağlayarak sürecin gelişmesine herkesin katkıda bulunmasını amaçlıyor.

İkincisi bu açılımın pil teknolojisine yenilikler katılabilmesine yol açabileceğine inanıyor.

Ve son olarak ; Samsung ” yansıma ve öğrenme inovasyonun ayrılmaz bir parçasıdır ” diyor, yani yeni Samsung telefonların bir daha asla yanıp patlamayacağına herkesin güvenmesini sağlamak istiyor.

Samsung testleri

Samsung cihazları için yeni piller artık sekiz noktalı inceleme sürecine girdi. Daha önce fiziksel bir dayanıklılık testi, görsel kontrol, x-ray testi, sökme testi ve OCV (gerilim) testi olmak üzere beş pil testi yapılıyorken Samsung şimdi bu testleri daha fazla birim üzerinde yürütüyor ve şarj / deşarj testi, uçucu organik bileşik testi ve hızlandırılmış kullanım (pil ömrü) testi de dahil olmak üzere üç tamamen yeni test ekleniyor.

Bu testlerin bazıları fiziksel dayanıklılık testi gibi kasıtlı olarak tahrip edicidir, bu nedenle Samsung aldığı pillerin yaklaşık yüzde 3’ünü yok eder. Tek bir birim bile başarısız olursa, tüm parti analiz için tedarikçiye geri gönderilir.

Samsung yeni testler sonucu herşeyin sorunsuzca çalıştığını iddia ediyor. Her ne kadar, en azından şimdiye kadar Galaxy S8 için pil arızaları bildirilmese bile yine de bununla ilgili elimizde yeterince veri yok. Bekleyip göreceğiz .

 

 

Yorum yaz